產(chǎn)品展示
韓國先鋒測厚儀XRF-2000膜厚儀的詳細(xì)資料:
韓國先鋒測厚儀XRF-2000膜厚儀
XRF-2020鍍層測厚儀
韓國Micropioneer測量原理:
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后
由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。
從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來
而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理
就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度
來進(jìn)行定性和定量分析
用于測量PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。
只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果
小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積;
測量范圍:0-35um;
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量
電鍍膜厚儀型號功能XRF-2020測厚儀規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點(diǎn)自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
韓國XRF-2020測厚儀快速無損測量
鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
韓國先鋒測厚儀XRF-2000膜厚儀
韓國微先鋒Micropioneer
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