產(chǎn)品展示
韓國XRF-2000測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片的詳細(xì)資料:
韓國XRF-2000測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片
X-RAY膜厚儀校正片
適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。
也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系
來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品
以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料
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