產(chǎn)品展示
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀/X-RAY膜厚儀的詳細資料:
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀/X-RAY膜厚儀
原裝*韓國Micropioneer微先鋒
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
XRF-2020測厚儀配置全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
儀器空納檢測樣品高度3cm 12cm,長寬55cm
鍍層厚度測試范圍:0.03-35um
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
測量時間:10-30秒
韓國Micro Pioneer XRF-2020鍍層測厚儀測試范圍
鍍金:0.03-6um
鍍鈀:0.03-6um
鍍鎳:0.5-30um
鍍錫:0.3-50um
鍍銀:0.1-50um
鍍鉻:0.5-30um
鍍銅:0.5-30um
鍍鋅:0.5-30um
鍍鋅鎳合金:0.5-30um
韓國先鋒XRF-2020測厚儀應(yīng)用:
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等
可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度
韓國XRF-2020型號規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型 測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀/X-RAY膜厚儀
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