X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的
點(diǎn)擊次數(shù):796 更新時(shí)間:2021-10-23
X光鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)儀器。儀器廣泛運(yùn)用于工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中,包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等,當(dāng)然在實(shí)驗(yàn)室精細(xì)測(cè)量中也有運(yùn)用,包含航空航天、科研開(kāi)發(fā)等范疇。
X光鍍層測(cè)厚儀作業(yè)原理:
測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
1、磁性法:當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí),測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度;
2、渦流法:利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?,通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
1、對(duì)于壓敏膠,涂布/紙加工,煙草薄片,水性涂層,熱熔膠等材料,本產(chǎn)品擁有非接觸測(cè)量的優(yōu)勢(shì);
2、在保證測(cè)量速度的基礎(chǔ)上,本產(chǎn)品能夠?qū)⒈粶y(cè)物微小的厚度變化完整地呈現(xiàn)出來(lái);
3、本產(chǎn)品能擁有*的重復(fù)性,預(yù)計(jì)GRR能夠達(dá)到5%左右。